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WaveMaster® Plan - 平面元件的波前测量

WaveMaster® Plan 用于光学平板或光楔等平面光学元件的质量控制,系统利用内置的夏克·哈特曼 波前传感器透射式检测光学波前。 \
WaveMaster Plan使用夏克·哈特曼传感器测量平面元素

主要特点

*综合分析平面光学元件;

*快速检测样品的产量;

*样品架可保证亚微米范围的校准;

*更换样品后,只需要进行最小的调整;

*夏克·哈特曼传感器具有高测量精度;

*与主透镜或设计文件中波阵面的实时比较;

*准直光源;

*防震设计;

*功能完备的软件;


应用

WaveMaster 透射式检测平面元的光学波前面型的质量。

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